基本信息
| 标准名称： | 工业硅 |
| 英文名称： | Silicon metal |
| 中标分类： | 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属 |
| ICS分类： | 电气工程 >> 半导体材料 |
| 替代情况： | 替代GB 2881-1991 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2008-03-31 |
| 实施日期： | 2008-09-01 |
| 首发日期： | 1981-12-30 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 中国有色金属工业协会 |
| 提出单位： | 中国有色金属工业协会 |
| 归口单位： | 全国有色金属标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 山西晋能集团有限公司、包头铝业股份有限公司、中国有色金属工业标准计量质量研究所 |
| 起草人： | 张耀、王志明、董志忠、董剑雄、罗忠臣、沈清华 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2008-09-01 |
| 页数： | 6页 |
| 计划单号： | 20061846-T-610 |
| 书号： | 155066·1-31451 |
适用范围
本标准规定了工业硅的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存和订货单或合同内容。本标准适用于矿热炉内炭质还原剂与硅石熔炼所生产的工业硅，主要用于配制合金、制取多晶硅和生产有机硅等。 本标准代替ＧＢ／Ｔ２８８１—１９９１《工业硅技术条件》。
本标准与ＧＢ／Ｔ２８８１—１９９１相比，主要变化如下：
———将标准名称由《工业硅技术条件》改为《工业硅》。
———化学用硅的牌号由原来的二个增加到四个，改变了原有对硅、铁、铝、钙元素含量的限制。冶金用硅也改变了对硅、铁、铝、钙元素含量的限制。
———粒度范围在保留原有的６ｍｍ～２００ｍｍ 的基础上，增加了三个粒度级。
———将原标准中４．４．１取样方法进行修改。
———将原标准中４．４．２“取样后的试样应全部通过０．１７５ｍｍ 的标准筛”改为“通过０．１４９ｍｍ 的标准筛”。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T8170 数值修约规则
GB/T14849(所有部分) 工业硅化学分析方法
所属分类： 冶金 半金属与半导体材料 半金属 电气工程 半导体材料